廠家整理的冷熱沖擊試驗機常見問題

科文冷熱沖擊試驗機用途：電子電器零組件、金屬、化學材料、自動化零部件、通訊組件、國防工業、航天工業、BGA、PCB基板、電子芯片IC、半導體陶瓷及高分子材料之物理性變化的理想測試工具. 電子電器零組件、金屬、化學材料、自動化零部件、通訊組件、國防工業、航天工業、BGA、PCB基板、電子芯片IC、半導體陶瓷及高分子材料之物理性變化的理想測試工具.東莞市科文試驗設備有限公司是**生產冷熱沖擊試驗機廠家，專注研發設計12年，精心為冷熱沖擊機用戶提供的冷熱沖擊測試機。現在，廠家科文為您整理了冷熱沖擊試驗機常見問題，希望能幫助冷熱沖擊箱用戶更深入掌握該設備。

說明：

　 整理與介紹目前環境試驗當中，使用者在使用環境試驗設備，以及對于規范的要求常遇見的問題與迷失，若您有下述相關問題歡迎您與業務部，我們將竭誠為您服務。

溫度沖擊試驗溫變率是否是越快越好？

說明：溫度沖擊試驗中的溫變率是否是越快越好，溫變率到底對于試驗結果有沒有影響，怎么樣的溫變率才是好的沖擊溫變率？

溫度沖擊與溫度循環如何分辨？

說明：溫度沖擊與溫度循環兩者的差異性在哪里，還是都一樣只是稱呼不一樣而已？

溫度沖擊試驗駐留時間如何決定？

說明：在沖擊過程當中有所謂的駐留時間，待測品的駐留時間要如何決定，是依據待測品的數量，還是看待測品的材質而定？

沖擊溫度需OVER或低于設定值？

說明：沖擊過程中，沖擊溫度因該是高于設定值，還是低于設定值才是正確的？

沖擊試驗的溫度感知器，因放置于測試區還是風道里面？

說明：沖擊試驗機的溫度傳感器，其放置位置因該要放在測試區里面還是風道里面？

先沖高溫還是先沖低溫？

說明：溫度沖擊試驗中，因該是要先沖高溫還是先沖低溫，如果規范沒有要求的話怎么決定？

為什么有些沖擊要過常溫？

說明：為什么有些沖擊要過常溫，而有些沖擊不需要過常溫，過常溫的沖擊試驗對于產品有什么影響？

使用烤箱與冷凍柜是否可以取代冷熱沖擊機來進行試驗？

說明：如果沒有錢買冷熱沖擊機的話，是否可以使用烤箱與冷凍柜透過人工搬運的方式來取代冷熱沖擊機

如何透過冷熱沖擊機來計算產品預估壽命？

說明：使用冷熱沖擊機使否可以計算預估產品可能的使用壽命

試驗中的問題：

手持待測品的要點？

說明：要將待測品拿到試驗爐內放置，怎么樣拿才正確

試驗爐壁多久需要擦拭？

說明：試驗爐壁多久需要擦拭，是年保養還是季保養還是周保養，如果不擦的話又會怎么樣

我想要縮短試驗時間應該怎么做？

說明：我在進行高溫高濕試驗或是沖擊試驗時，有沒有辦法縮短我的試驗時間，讓試驗結果一樣

東莞科文12年只做一件事“為用戶制造高品質的試驗設備”，冷熱沖擊試驗機廠家真誠為您服務，如在操作或使用冷熱沖擊機時遇到**疑點，請您務必科文。

超高速高低溫氣流沖擊試驗機適用于各類半導體芯片、閃存Flash/EMMC、PCB電路板IC、光通訊（如收發器transceiver高低溫測試、SFP光模塊高低溫測試等）、電子行業等進行IC特性分析、高低溫循環測試、溫度沖擊測試、失效分析等可靠性試驗。

工作試驗方法

1、試驗機輸出氣流罩將被測試品罩住，形成一個較密閉空間的測試腔，試驗機輸出的高溫或低溫氣流，使被測試品表面溫度發生劇烈變化，從而完成相應的高低溫沖擊試驗；

2、可針對眾多元器件中的某一單個IC或其它元件，將其隔離出來單獨進行高低溫沖擊，而不影響周邊其它器件，與傳統冷熱沖擊試驗箱相比，溫變變化沖擊速率更快。

工作模式

A）2路主空氣管輸出，由分布頭分為8路供氣，帶2套1拖8系統

B)2種檢測模式AirMode和DUTMode

測試和循環于高溫/常溫/低溫(或者不要常溫）

主要技術參數

設備型號：HE-ATS750

樣品盒尺寸：直徑140mm×高50mm

制冷方式：采用風冷式HFC環保制冷劑復疊系統，溫度可達-70℃

噪音：≤65dB（A聲級）

條件：風冷式環境溫度在+23℃時

溫度控制范圍：-70℃～+250℃

沖擊溫度范圍：-60℃～+200℃

溫度轉換時間：≤10秒

溫度偏差：測試品恒定在-40℃時,溫度偏差為±1℃

沖擊氣流量：1.9~8.5L/s(分為8路，每路0.23~1.06L/s）連續氣流

溫變速率降：RT+10℃降至-40℃≤60s

試品表面溫度：RT+10℃降至-40℃約1分鐘試品表面溫度達到，氣體溫度與樣品溫度可選擇測控

控制系統：采用進口智能PLC觸摸屏控制，7寸彩色屏

試品：帶2套1拖8系統，金屬封裝PCB板模塊8片；

前端空氣經干燥過濾器處理,產品測試區及附近無明顯結露現象。設備可以連續運轉不需進行除霜。

外形尺寸：寬790×高1600×深1080（mm）以實物為準

使用電源：AC三廂五線380V50/60HZ

標準儀據

GB/T2423.1-2008試驗A：低溫試驗方法；

GB/T2423.2-2008試驗B：高溫試驗方法；

GB/T2423.22-2012試驗N：溫度變化試驗方法

GJB/150.3-2009高溫試驗

GJB/150.4-2009低溫試驗

GJB/150.5-2009溫度沖擊試驗