【***** 使用手冊】光譜是物質的一種“指紋”，是其與生俱來的“身份證”，而作為分辨光波的神奇“眼睛”，光譜儀能準確測量物質“指紋”，從而“一眼洞穿”其化學成分和相對含量。作為人類物質成分分析重要幫手，光譜儀在工業生產和科學研究中發揮著重要作用。　　X射線熒光分析儀是RoHS指令中有害元素檢測的常用儀器，又分為能量色散和波長色散兩類，也就是我們俗稱的能譜儀和波譜儀，在X射線激發下，被測元素原子的內層電子發生能級躍遷而發出次級X射線(即X-熒光)。波長和能量是從不同的角度來觀察描述X射線所采用的兩個物理量。在RoHS指令檢測中常用的是能量色散型X射線熒光分析儀。能量色散型X射線熒光分析儀擁有快速檢測、分析的優勢，同時配備無需液氮型電子制冷檢測器，在實現降低運作成本和更易維護的同時，也具備了高可信性分析和自動化分析能力。且根據不同樣品從開始測試到得到結果所需測試時間基本上可在1分鐘內完成，**可以應對RoHS指令中所限制的有害元素的篩選分析。　　X射線熒光光譜儀主要由激發、色散、探測、記錄及數據處理等單元組成。激發單元的作用是產生初級X射線。它由高壓發生器和X光管組成。后者功率較大，用水和油同時冷卻。色散單元的作用是分出想要波長的X射線。它由樣品室、狹縫、測角儀、分析晶體等部分組成。通過測角器以1∶2速度轉動分析晶體和探測器，可在不同的布拉格角位置上測得不同波長的X射線而作元素的定性分析。探測器的作用是將X射線光子能量轉化為電能，常用的有蓋格計數管、正比計數管、閃爍計數管、半導體探測器等。記錄單元由放大器、脈沖幅度分析器、顯示部分組成。通過定標器的脈沖分析信號可以直接輸入計算機，進行聯機處理而得到被測元素的含量。 X射線熒光光譜儀的試驗方法

　　X射線熒光光譜儀具有重現性好，測量速度快，靈敏度高的特點。能分析B(5)～U(92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業樣品。無標半定量方法可以對各種形狀樣品定性分析，并能給出半定量結果，結果準確度對某些樣品可以接近定量水平，分析時間短。薄膜分析軟件FP-MULT1能作鍍層分析，薄膜分析。測量樣品的**尺寸要求為直徑51mm，高40mm。

　　X射線熒光光譜儀的基本試驗方法：

　　X熒光光譜儀（XRF）由激發源（X射線管）和探測系統構成。X射線管產生入射X射線（一次X射線），激發被測樣品。受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統測量這些放射出來的二次X射線的能量及數量。然后，儀器軟件將探測系統所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類及含量。

　　用X射線照射試樣時，試樣可以被激發出各種波長的熒光X射線，需要把混合的X射線按波長（或能量）分開，分別測量不同波長（或能量）的X射線的強度，以進行定性和定量分析，為此使用的儀器叫X射線熒光光譜儀。

　　X射線熒光光譜儀分為波長色散、能量色散、非色散X熒光、全反射X熒光。

　　波長色散X射線熒光光譜采用晶體或人工擬晶體根據Bragg定律將不同能量的譜線分開，然后進行測量。波長色散X射線熒光光譜一般采用X射線管作激發源，可分為順序式(或稱單道式或掃描式)、同時式(或稱多道式)譜儀、和順序式與同時式相結合的譜儀三種類型。順序式通過掃描方法逐個測量元素，因此測量速度通常比同時式慢，適用于科研及多用途的工作。同時式則適用于相對固定組成，對測量速度要求高和批量試樣分析, 順序式與同時式相結合的譜儀結合了兩者的優點。